Redux AFM
3번의 클릭으로 나노 스케일의 3D 이미지
연구실을 벗어나지 않고도 몇 분 만에 고해상도 3D 지형 데이터를 손쉽게 수집할 수 있습니다.
- 벤치탑 AFM을 위한 가장 빠른 데이터 수집 시간
- 자동 구성, 접근 및 스캐닝
- 간편한 샘플 위치 조정을 위한 모터 구동 XY 및 Z 스테이지
- 통합 광학 현미경
- 사용하기 쉽고 내구성이 뛰어난 AFM 칩
최신 AFM을 만나보세요.
이 영상을 통해 원자간력현미경(AFM)에 대해 자세히 알아보고,
Redux의 특별함과 그 결과를 확인해 보세요.
비교할 수 없을 만큼 빠른 결과를 확인하세요.
이 단일 영상을 통해 Redux 운영 방식을 직접 확인해 보세요.
샘플 로딩 및 설정을 포함하여 3D 데이터를
3분 이내에 수집하는 전 과정을 경험해 보세요.
나노미터 미만의 정밀도를 갖춘 정량적 3D 데이터
몇 분 안에 샘플 로딩부터 데이터로 전환
원클릭 구성 및 레이저 정렬 없음
지형, 거칠기, 두께, 입자 크기 등
정량적 고해상도 형상(topography) 데이터를 통해 나노 수준의 인사이트를 확보하세요.
라인 프로파일과 Ra 측정을 넘어, 3D 고해상도 정량 분석 데이터를 제공합니다.
막 두께와 단차(step height) 등 미세 구조의 치수를 정확하게 측정할 수 있습니다.
입자의 크기, 형태, 분포를 서브 나노미터 해상도로 파악하세요.
다양한 물성의 구성 성분들이 공간상에 어떻게 분포되어 있는지 시각화할 수 있습니다.
레이저 정렬이나 수동 접근 과정 없이, AFM 칩 내장 센서가 모든 과정을 자동화합니다.
불투명 또는 투명, 도전성 또는 비도전성 시료 모두 대응
시료 전처리 최소화 또는 불필요, 비파괴 방식 스캔
넉넉한 시료 장착 공간 (125 mm x 100 mm / 5″ x 4″)
Redux AFM은 접착성 있는 시료를 포함하여 대부분의 고체 시료와 호환됩니다
초저 탭핑 힘으로 민감한 재료도 안전하게
누구나 쉽게 설치 가능한 설계
센서 내장으로 팁 파손과 시료 손상 제로
팁 충돌을 사전에 감지하는 내장 센서로, 뛰어난 내구성과 시료 보호를 동시에 제공합니다.
| Redux AFM 전체 사양 | |
|---|---|
| 센서 방식 | 자가 감지(Self-sensing), 레이저 정렬 불필요 |
| Z축 구동 | 자가 구동(Self-actuating) |
| XY축 구동 | 전열식(Electrothermal) |
| 최대 스캔 영역 (XY) | 20 μm × 20 μm |
| Z축 이동 범위 | 20 μm |
| 스캔 속도 | 80초 (256 × 256 픽셀 기준) |
| 노이즈 플로어 | < 0.5 nm RMS |
| XY 스캐너 분해능 | < 0.5 nm |
| 시료 플랫폼 크기 | 125 mm × 100 mm |
| 최대 시료 높이 | 20 mm |
| 최대 시료 무게 | 250 g |
| 지원 시료 조건 | 건조 상태(Dry) |
| 시료 위치 이동 범위 | 12 mm × 12 mm (모터 구동 XY 스테이지) |
| 광학 현미경 | 10x 대물렌즈 (NA 0.25), 시야: 1.4 × 0.8 mm |
| 영상 해상도 | FHD (1920×1080) 비디오 출력 |
| 시료 조명 | 통합형 LED 조명 |
| 시스템 크기 | 23.2 × 22.0 × 24.6 cm |
| 시스템 무게 | 4 kg |
| 통신 방식 | USB |
| 운영체제 | Windows 10, 11 |
| 데이터 출력 | TSV (원시), PNG (처리), GSF (Gwyddion 분석) |
| 전원 입력 | 100–240 VAC, 50/60 Hz |
| 전원 출력 | 12 VDC, 3 A |
| 기본 구성품 | Redux AFM 본체 (광학 현미경, 모터 스테이지, 환경 커버 포함), USB-C to USB-A 케이블 ×2, 전원 어댑터, 접지 케이블, AFM 칩, 핀셋, 여분 썸너트 |
| 기본 액세서리 | 방음 인클로저, 진동 차단 테이블 |
| 선택 액세서리 | 교정 격자(Calibration Gratings), 소프트웨어 사전 설치 노트북 |
Redux와 nGauge 모두 AFM-on-a-chip 기술을 사용하여 나노 이미징을 손쉽게 수행할 수 있습니다.
Redux는 통합 광학 현미경과 모터 구동 XY 스테이지를 포함해 더 높은 수준의 자동화를 제공하며, 더 큰 시료도 올릴 수 있는 플랫폼을 갖추고 있습니다.
Redux는 시스템에 내장된 센서와 스캐너 덕분에 매우 빠르고 효율적인 스캔이 가능합니다.
Redux는 탁월한 사용 편의성을 제공합니다. 레이저 정렬이 전혀 필요 없으며, 설치 과정도 모두 자동화되어 있습니다.
상단의 데모 영상을 통해 직접 확인해보세요.
네, 동일한 AFM 칩을 사용할 수 있습니다. 이미 한 시스템을 갖고 있다면, 보유 중인 칩을 그대로 사용할 수 있습니다.
대부분의 경우, 네. 별도의 시료 전처리가 거의 필요하지 않습니다. 투명, 불투명, 전도성, 비전도성, 접착성 여부와 관계없이 스캔이 가능합니다.
곡면 시료도 마이크론 단위 스캔 영역에서는 큰 문제가 되지 않습니다.
단, 스캔 중 시료가 움직이지 않아야 하므로, 얇거나 유연한 시료(예: 종이, 섬유, 와이어)는 유리 슬라이드나 마이카 디스크에 접착하여 고정하는 것이 좋습니다.
네, 가능합니다. 얇은 섬유나 와이어처럼 가느다란 시료도 문제없이 스캔할 수 있습니다.
대체로 문제 없습니다. 전체 시료에서 높이 변화가 크더라도, AFM의 스캔 영역은 제한되어 있어 일반적으로 그 범위 안에서는 문제되지 않습니다.
Redux의 시료 스테이지는 X, Y, Z축 모두 모터로 구동되며, 전용 소프트웨어를 통해 제어됩니다.
최상의 결과를 위해 진동 차단 테이블 사용을 강력히 권장합니다. Redux 전용으로 수동 및 능동형 테이블을 제공합니다.
환경 소음을 줄이기 위해 음향 차단 인클로저 사용을 추천드립니다. Redux 전용 인클로저를 제공합니다.
Redux는 현재 액체 시료 스캔을 지원하지 않습니다.
네, AFM은 가장 높은 해상도를 가진 거칠기 측정 기술입니다. 마이크로미터 단위의 큰 거칠기도 측정 가능합니다.
Redux는 간헐적 접촉 모드(Tapping Mode)로 작동하며, 형상(Topography) 및 위상(Phase) 이미지를 수집합니다.
Redux는 현재 Force-Distance 커브 수집은 지원하지 않습니다.
네, Redux는 콤팩트한 구조로 글러브 박스 내 설치가 가능하며, 상단 커버도 쉽게 분리할 수 있어 조작이 용이합니다.
Redux는 현재 진공 상태에서의 사용은 지원하지 않으며, 대기 환경에서의 사용을 전제로 설계되었습니다.
Redux는 AFM 중에서도 최고 수준의 사용 편의성을 제공합니다. 광학 현미경처럼 쉽게 사용할 수 있으며, 상단의 데모 영상에서 직접 작동 방식을 확인해보세요.
“ICSPI는 강력하고 사용하기 쉬운 나노 규모 계측을
모든 곳에서 제공하는 사명을 띠고 있습니다.”
ICSPI는 2007년에 모든 사람에게 강력하고 저렴한 나노 규모의 계측을 제공한다는 목표로 설립되었습니다. 기술이 그 어느 때보다 빠르게 축소되고 있지만 나노 스케일 이미징은 상대적으로 접근하기 어려운 상태로 남아 있습니다. 기존 나노스케일 이미징 시스템의 낮은 다양성, 복잡성 및 높은 비용에 좌절감을 느낀 ICSPI는 나노스케일 이미징에 혁명을 일으키고 모든 실험실, 학생 및 연구원에게 이 기술을 제공하고자 했습니다.
DARPA와 온타리오 연구 기금의 자금 지원을 받아 캐나다 워털루 대학교에서 거의 10년 동안 연구 개발을 수행한 후 ICSPI는 세계 최초의 단일 칩 원자간력 현미경(AFM)을 상용화했습니다. 2017년에 출시된 당사의 주력 제품인 nGauge AFM은 AFM 및 나노스케일 계측에 대한 기대치를 재설정했습니다. 모든 스캐너와 센서가 단일 1mm x 1mm CMOS 칩에 통합되어 크기를 소형화하고 비용을 절감하며, 나노 스케일 계측 기기의 작동을 극적으로 단순화합니다.
nGauge AFM은 대학, 정부 기관 및 스타트업에서 세계 최대 기업에 이르기까지 모든 규모의 기업에서 수백 명의 연구원, 과학자 및 엔지니어의 신뢰를 받고 있습니다.
ICSPI는 2007년에 모든 사람에게 강력하고 저렴한 나노 규모의 계측을 제공한다는 목표로 설립되었습니다. 기술이 그 어느 때보다 빠르게 축소되고 있지만 나노 스케일 이미징은 상대적으로 접근하기 어려운 상태로 남아 있습니다. 기존 나노스케일 이미징 시스템의 낮은 다양성, 복잡성 및 높은 비용에 좌절감을 느낀 ICSPI는 나노스케일 이미징에 혁명을 일으키고 모든 실험실, 학생 및 연구원에게 이 기술을 제공하고자 했습니다.
DARPA와 온타리오 연구 기금의 자금 지원을 받아 캐나다 워털루 대학교에서 거의 10년 동안 연구 개발을 수행한 후 ICSPI는 세계 최초의 단일 칩 원자간력 현미경(AFM)을 상용화했습니다. 2017년에 출시된 당사의 주력 제품인 nGauge AFM은 AFM 및 나노스케일 계측에 대한 기대치를 재설정했습니다. 모든 스캐너와 센서가 단일 1mm x 1mm CMOS 칩에 통합되어 크기를 소형화하고 비용을 절감하며, 나노 스케일 계측 기기의 작동을 극적으로 단순화합니다.
nGauge AFM은 대학, 정부 기관 및 스타트업에서 세계 최대 기업에 이르기까지 모든 규모의 기업에서 수백 명의 연구원, 과학자 및 엔지니어의 신뢰를 받고 있습니다.
ICSPI는 2007년에 모든 사람에게 강력하고 저렴한 나노 규모의 계측을 제공한다는 목표로 설립되었습니다. 기술이 그 어느 때보다 빠르게 축소되고 있지만 나노 스케일 이미징은 상대적으로 접근하기 어려운 상태로 남아 있습니다. 기존 나노스케일 이미징 시스템의 낮은 다양성, 복잡성 및 높은 비용에 좌절감을 느낀 ICSPI는 나노스케일 이미징에 혁명을 일으키고 모든 실험실, 학생 및 연구원에게 이 기술을 제공하고자 했습니다.
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